電子探針（EPMA）主要用于樣品微區(qū)的化學(xué)組成定性和定量分析、定量線分析、定量面分析、化學(xué)價態(tài)和痕量元素分析，主要應(yīng)用領(lǐng)域包括各種地質(zhì)樣品中礦物的形貌、結(jié)晶形態(tài)、成分分析（檢測限可達(dá)幾十ppm）；材料學(xué)主要用于材料微區(qū)成分分析，如對無鉛焊錫材料中Ag的區(qū)域面分析；在礦物加工領(lǐng)域，主要利用EPMA對礦石、精礦、尾礦及浸入殘渣以及冶煉產(chǎn)物等樣品進(jìn)行快速礦物定量分析，確定礦物組成和有價元素賦存狀態(tài)；在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，主要用于靶向給藥示蹤（如腫瘤細(xì)胞中鉑絡(luò)合物的分布圖像）和骨骼微結(jié)構(gòu)和成分分析。
本實驗室配備有日本JEOL公司最新的JXA-iHP200F型場發(fā)射電子探針顯微分析儀，主要用于礦物材料的微區(qū)定量元素分析，同時可滿足衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺。本實驗配備了衍射和小角散射裝置，可以實現(xiàn)對樣品的物相分析和納米顆粒的粒徑分布分析等，主要用于地質(zhì)、環(huán)境、材料、礦物加工等專業(yè)領(lǐng)域。主要參數(shù)如下：
| 檢測元素范圍 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
| 檢測X-ray 范圍 | 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm； 能量范圍EDS: 20 keV。 |
| 譜儀數(shù) | WDS:4個, EDS: 1個 |
| 最大樣品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| 二次電子像分辨率 | ≤2.5nm (30kV, 110-11 A, 工作距離11mm) |
| 束斑尺寸 | ≤20nm (10kV, 110-8 A, 工作距離11mm) |
| 加速電壓 | 1～ 30kV（步長：0.1kV） |
| 束流范圍 | 10-12～3×10-6 A |
| 圖像放大倍數(shù) | ×40～×300,000 |
| X射線出射角 | 40° |
| 安裝地點 | 資環(huán)樓122B實驗室 |
| 負(fù)責(zé)人 | 陳軍（15085938656）；李秀財（15155973365） |
測試項目：
1、樣品形貌、BSE和CL拍照
2、樣品元素定性分析
3、樣品元素定量分析
4、樣品元素線、面分析
實驗室預(yù)約流程及收費標(biāo)準(zhǔn)：
1、請?zhí)崆?/span>15天預(yù)約，預(yù)約方式聯(lián)系實驗室負(fù)責(zé)人或者加入探針實驗室QQ群預(yù)約（群號：721239354）。
2、填寫預(yù)約申請表（見附件，自行打印），需項目負(fù)責(zé)人和分析測試人簽字，在開展實驗時提交至本實驗室。
3、收費標(biāo)準(zhǔn)：BSE、CL拍照、微區(qū)化學(xué)組成定性和定量分析、線分析、面分析等，600元/小時，機時計算是從樣品放入樣品倉算起；樣品鍍碳膜，200元/次。
附件1：貴州大學(xué)資源與環(huán)境工程學(xué)院場發(fā)射電子探針顯微分析儀分析測試申請表.docx
